자동 테스트 장비 시장 규모 및 점유율 분석 – 성장 동향 및 예측 (2026-2031년)

자동화 테스트 장비(ATE) 시장 개요 및 분석

Mordor Intelligence 보고서에 따르면, 자동화 테스트 장비(ATE) 시장은 2025년 92억 달러 규모에서 2026년 98.3억 달러로 성장할 것으로 예상되며, 2026년부터 2031년까지 연평균 성장률(CAGR) 6.82%를 기록하며 2031년에는 136.7억 달러에 이를 것으로 전망됩니다. 이 시장은 중간 정도의 집중도를 보이며, 아시아 태평양 지역이 가장 큰 시장을 형성하고 중동 및 아프리카 지역이 가장 빠르게 성장할 것으로 예측됩니다.

주요 시장 동인 및 트렌드

ATE 시장의 성장은 여러 핵심 동인에 의해 강력하게 추진되고 있습니다. 첫째, 반도체 산업에서 5나노미터(nm) 이하의 첨단 기술 노드로의 전환이 가속화되면서, 더욱 정밀하고 복잡한 테스트 솔루션에 대한 수요가 급증하고 있습니다. 이러한 미세 공정 기술은 칩의 집적도를 높이고 성능을 향상시키지만, 동시에 결함을 감지하고 특성을 검증하는 데 있어 훨씬 더 정교한 ATE를 필요로 합니다. 둘째, 전 세계적인 차량 전동화(Electrification of Vehicles) 추세는 자동차 산업 내에서 전력 반도체, 센서, 마이크로컨트롤러 등 다양한 전자 부품의 사용을 폭발적으로 증가시키고 있습니다. 이들 부품은 높은 신뢰성과 안전성을 요구하므로, 엄격한 품질 관리를 위한 ATE의 역할이 더욱 중요해지고 있습니다. 셋째, 시스템 인 패키지(System-in-Package, SiP) 설계의 복잡성 증가는 여러 기능을 하나의 패키지에 통합함으로써 테스트의 난이도를 높이고 있습니다. 이는 개별 칩뿐만 아니라 통합된 시스템 전체의 기능과 상호작용을 검증할 수 있는 포괄적인 테스트 솔루션의 필요성을 부각시킵니다.

이러한 시장 변화에 대응하여 ATE 제조업체들은 혁신적인 기술 개발에 박차를 가하고 있습니다. 특히, 10 nV/√Hz 이하의 초저잡음 측정 기능을 갖춘 플랫폼에 대한 투자가 활발하며, 이는 고성능 아날로그 및 혼성 신호(mixed-signal) 반도체 테스트에 필수적입니다. 또한, 전기차 및 산업용 애플리케이션에 사용되는 전력 장치(power device)의 테스트를 위해 1,200V 이상의 고전압 스트레스를 안전하게 인가할 수 있는 테스터에 대한 요구도 증가하고 있습니다. 장비 공급업체들은 테스트 과정에서 발생하는 방대한 데이터를 실시간으로 분석하여 디버그 주기를 단축하고 생산 수율을 개선하는 데 기여하는 솔루션을 적극적으로 통합하고 있습니다. 시장에서는 선도적인 공급업체들 간의 통합 및 합병이 지속되는 경향을 보이지만, 동시에 인공지능(AI) 가속기용 웨이퍼 레벨 번인(wafer-level burn-in)이나 포토닉스 장치(photonics device)의 신뢰성 검증과 같은 특정 틈새 성장 분야를 공략하는 혁신적인 중견 기업들의 부상도 주목할 만합니다.

세그먼트별 시장 분석

* 테스트 장비 유형별: 비메모리 플랫폼이 2025년 시장 점유율 46.85%로 가장 큰 비중을 차지했으며, 시스템 레벨 테스터는 2031년까지 연평균 13.2%의 가장 빠른 성장률을 보일 것으로 예상됩니다.
* 구성 요소별: 테스터 메인프레임이 2025년 매출의 55.90%를 차지하며 선두를 달렸고, 시스템 레벨/번인 랙은 2031년까지 연평균 12.4%로 가장 빠르게 성장할 것으로 전망됩니다.
* 테스트 단계별: 패키지/최종 테스트가 2025년 ATE 시장 규모의 60.85%를 차지했으며, 시스템 레벨 테스트는 2031년까지 연평균 13.2%로 상승할 것으로 예측됩니다.
* 기술 노드별: 28nm 이상(≥28 nm) 티어가 2025년 매출의 37.95%를 유지했으며, 5nm 이하(≤5 nm) 플랫폼은 2026년부터 2031년까지 연평균 15.1%로 가장 급격한 성장을 보일 것으로 예상됩니다.
* 최종 사용자 산업별: 가전제품이 2025년 시장 점유율 38.95%를 기록했으며, 자동차 및 전기차(EV) 애플리케이션은 2031년까지 연평균 11.8%로 성장할 것으로 전망됩니다.
* 지역별: 아시아 태평양 지역이 2025년 매출의 61.90%를 차지하며 시장을 주도했고, 중동 및 아프리카 지역은 2026년부터 2031년까지 연평균 8.8%의 성장률을 기록할 것으로 예상됩니다.

종합적으로 볼 때, 자동화 테스트 장비 시장은 반도체 기술의 고도화와 새로운 산업 분야의 수요 증가에 힘입어 지속적인 성장을 이룰 것으로 보입니다. 특히 첨단 기술 노드와 시스템 레벨 테스트, 그리고 자동차 및 전기차 분야에서의 수요가 시장 성장을 견인할 주요 동력이 될 것입니다.

보고서 요약: 자동화 테스트 장비(ATE) 시장 분석

본 보고서는 반도체 및 조립된 전자 장치의 전기적, 기능적 검증을 위해 사용되는 컴퓨터 제어 플랫폼인 자동화 테스트 장비(ATE) 시장에 대한 포괄적인 분석을 제공합니다. ATE는 핸들러, 프로버, 테스터 및 시스템 레벨 랙을 포함하며, 일반적인 벤치 테스트 장비는 범위에서 제외됩니다.

1. 시장 환경 및 동인
ATE 시장은 여러 핵심 동인에 의해 성장하고 있습니다. 7nm 미만 노드의 축소로 초저잡음 ATE의 필요성이 증대되고 있으며, 유럽연합(EU)에서는 ISO 26262 표준에 따른 자동차 기능 안전 IC 테스트 수요가 급증하고 있습니다. 또한, SiC/GaN 전력 소자의 확산은 고전압 개별 ATE 시장을 견인하고 있으며, SiP(System-in-Package)의 성장은 시스템 레벨 테스터의 수요를 촉진하고 있습니다. 아시아 지역의 5G/6G RF 프론트엔드 복잡성 증가와 미국 CHIPS Act, EU Chips Act와 같은 리쇼어링 인센티브는 테스트 역량 확대를 유도하고 있습니다.

2. 시장 제약 요인
반면, 시장 성장에는 몇 가지 제약 요인이 존재합니다. 5nm 미만 테스터의 높은 자본 집약도와 5년 이상의 긴 투자 회수 기간은 특히 중소형 팹의 구매력을 제한합니다. 온칩 BIST(Built-In Self-Test) 기술의 발전은 외부 디지털 ATE 수요를 감소시키는 요인으로 작용하며, 벤더 간 인터페이스 상호 운용성 부족과 반도체 CAPEX의 주기적인 감소 또한 시장 성장을 저해할 수 있습니다.

3. 시장 세분화 및 예측
보고서는 테스트 장비 유형(메모리, 비메모리, 개별, 테스트 핸들러), 구성 요소(테스터, 핸들러, 프로버, 로드/인터페이스 보드 및 소켓), 테스트 단계(웨이퍼 프로브 테스트, 패키지/최종 테스트, 시스템 레벨/번인 테스트), 기술 노드(≥28 nm, 14-22 nm, 7-10 nm, ≤5 nm), 최종 사용자 산업(소비자 가전, IT 및 통신, 자동차 및 EV, 항공우주 및 방위, 헬스케어 기기, 산업 및 전력) 및 지역(북미, 남미, 유럽, 아시아 태평양, 중동 및 아프리카)별로 시장을 세분화하여 분석하고 성장 예측을 제시합니다.

4. 주요 시장 통찰 및 전망
* 시스템 레벨 테스터의 급증: SiP 채택과 자동차 기능 안전 의무화로 인해 실제 작동 조건에서의 전체 장치 검증이 필수화되면서, 시스템 레벨 테스터 수요는 2031년까지 연평균 13.2%의 높은 성장률을 보일 것으로 예상됩니다.
* 아시아 태평양 지역의 중요성: 2025년 기준 아시아 태평양 지역은 전 세계 매출의 61.90%를 차지하며 시장을 주도하고 있습니다. 이는 대만, 한국, 중국, 일본의 첨단 팹에 기반합니다.
* 가장 빠르게 성장하는 기술 노드: AI 및 고성능 컴퓨팅 칩의 빠른 채택에 힘입어 5nm 이하(≤5 nm) 장치 부문은 2026년부터 2031년까지 연평균 15.1%로 가장 빠르게 성장할 것으로 전망됩니다.
* SiC 및 GaN 소자의 영향: 이들 와이드 밴드갭 반도체는 최대 1,200V의 테스트 전압과 고온 환경을 요구하므로, 고급 안전 기능을 갖춘 특수 고전압 개별 테스터의 필요성이 커지고 있습니다.
* 주요 시장 제약: 5nm 미만 플랫폼의 높은 자본 집약도는 5년 이상의 ROI를 필요로 하여, 소규모 팹의 구매력을 제한하는 주요 제약 요인으로 작용합니다.

5. 연구 방법론 및 신뢰성
본 보고서는 아시아 파운드리, 주요 소비재 브랜드, 북미 자동화 솔루션 통합업체 및 유럽 자동차 전자 그룹과의 심층 인터뷰를 포함하는 1차 연구와 미국 인구조사국, 일본 전자정보기술산업협회, SEMI, Volza 등의 공개 데이터 및 기업 공시 자료를 활용한 2차 연구를 통해 데이터를 수집하고 검증했습니다. 시장 규모 산정 및 예측은 상향식 및 하향식 접근 방식을 결합하여 수행되었으며, 기술 노드 마이그레이션, 주요 파운드리의 CAPEX, 글로벌 5G 핸드셋 생산량, 차량당 자동차 반도체 콘텐츠 등의 핵심 변수를 고려한 다변량 회귀 분석을 사용했습니다. 데이터는 독립적인 지표와의 분산 테스트를 거쳐 매년 업데이트되며, 주요 시장 이벤트 발생 시 중간 수정이 이루어집니다.

6. 경쟁 환경 및 기회
보고서는 시장 집중도, 전략적 움직임, 시장 점유율 분석 및 Advantest, Teradyne, Cohu 등 주요 기업들의 프로필을 포함한 경쟁 환경을 상세히 다룹니다. 또한, 시장의 미개척 영역과 충족되지 않은 요구 사항을 평가하여 미래 성장 기회를 제시합니다.

본 보고서는 2026년 1월 12일에 최종 업데이트되었습니다.

1. 서론

• 1.1 연구 가정 및 시장 정의

• 1.2 연구 범위

2. 연구 방법론

3. 요약

4. 시장 동향

• 4.1 시장 개요

• 4.2 시장 동인
  • 4.2.1 초저잡음 ATE를 요구하는 7nm 미만 노드 축소

  • 4.2.2 EU에서 자동차 기능 안전 IC 테스트(ISO 26262) 급증

  • 4.2.3 고전압 개별 ATE를 이끄는 SiC / GaN 전력 소자

  • 4.2.4 시스템 인 패키지(SiP) 성장이 시스템 레벨 테스터를 촉진

  • 4.2.5 아시아의 5G / 6G RF 프론트엔드 복잡성

  • 4.2.6 리쇼어링 인센티브(미국 CHIPS, EU 칩스 법안)로 테스트 용량 확대

• 4.3 시장 제약
  • 4.3.1 5nm 미만 테스터의 높은 자본 집약도 및 긴 회수 기간

  • 4.3.2 온칩 BIST가 외부 디지털 ATE 수요 감소

  • 4.3.3 제한된 공급업체 간 인터페이스 상호 운용성

  • 4.3.4 주기적인 반도체 CAPEX 삭감

• 4.4 가치 사슬 분석

• 4.5 규제 / 기술 전망

• 4.6 포터의 5가지 경쟁 요인
  • 4.6.1 신규 진입자의 위협

  • 4.6.2 구매자의 교섭력

  • 4.6.3 공급업체의 교섭력

  • 4.6.4 대체재의 위협

  • 4.6.5 경쟁 강도

• 4.7 투자 분석

• 4.8 거시 경제 요인의 영향

5. 시장 규모 및 성장 예측 (가치)

• 5.1 테스트 장비 유형별
  • 5.1.1 메모리

  • 5.1.1.1 DRAM

  • 5.1.1.2 플래시

  • 5.1.2 비메모리

  • 5.1.2.1 로직 / SoC

  • 5.1.2.2 혼성 신호 및 아날로그

  • 5.1.2.3 RF

  • 5.1.3 개별 소자

  • 5.1.4 테스트 핸들러

• 5.2 구성 요소별
  • 5.2.1 테스터 (코어 시스템)

  • 5.2.2 핸들러

  • 5.2.3 프로버

  • 5.2.4 로드/인터페이스 보드 및 소켓

• 5.3 테스트 단계별
  • 5.3.1 웨이퍼 프로브 테스트

  • 5.3.2 패키지 / 최종 테스트

  • 5.3.3 시스템 레벨 / 번인 테스트

• 5.4 기술 노드별
  • 5.4.1 ≥28 nm

  • 5.4.2 14-22 nm

  • 5.4.3 7-10 nm

  • 5.4.4 ≤5 nm

• 5.5 최종 사용자 산업별
  • 5.5.1 가전제품

  • 5.5.2 IT 및 통신

  • 5.5.3 자동차 및 EV

  • 5.5.4 항공우주 및 방위

  • 5.5.5 의료 기기

  • 5.5.6 산업 및 전력

• 5.6 지역별
  • 5.6.1 북미

  • 5.6.1.1 미국

  • 5.6.1.2 캐나다

  • 5.6.1.3 멕시코

  • 5.6.2 남미

  • 5.6.2.1 브라질

  • 5.6.2.2 아르헨티나

  • 5.6.2.3 기타 남미

  • 5.6.3 유럽

  • 5.6.3.1 독일

  • 5.6.3.2 영국

  • 5.6.3.3 프랑스

  • 5.6.3.4 이탈리아

  • 5.6.3.5 북유럽 (스웨덴, 핀란드, 노르웨이, 덴마크)

  • 5.6.3.6 기타 유럽

  • 5.6.4 아시아 태평양

  • 5.6.4.1 중국

  • 5.6.4.2 일본

  • 5.6.4.3 대한민국

  • 5.6.4.4 대만

  • 5.6.4.5 기타 아시아 태평양

  • 5.6.5 중동 및 아프리카

  • 5.6.5.1 중동

  • 5.6.5.1.1 사우디아라비아

  • 5.6.5.1.2 아랍에미리트

  • 5.6.5.1.3 튀르키예

  • 5.6.5.1.4 기타 중동

  • 5.6.5.2 아프리카

  • 5.6.5.2.1 남아프리카 공화국

  • 5.6.5.2.2 나이지리아

  • 5.6.5.2.3 기타 아프리카

6. 경쟁 환경

• 6.1 시장 집중도

• 6.2 전략적 행보

• 6.3 시장 점유율 분석

• 6.4 기업 프로필 (글로벌 개요, 시장 개요, 핵심 부문, 재무 정보(가능한 경우), 전략 정보, 주요 기업 시장 순위/점유율, 제품 & 서비스, 최근 개발 사항 포함)
  • 6.4.1 Advantest Corp.

  • 6.4.2 Cohu Inc.

  • 6.4.3 National Instruments (NI)

  • 6.4.4 FormFactor Inc.

  • 6.4.5 Hon Precision (Huafeng)

  • 6.4.6 TESEC Corp.

  • 6.4.7 Tokyo Electron (TEL)

  • 6.4.8 UniTest Inc.

  • 6.4.9 Shenzhen ChangHong Tech.

  • 6.4.10 Blue Chip Testers

  • 6.4.11 MAC Panel Company

  • 6.4.12 Star Technologies

  • 6.4.13 Samsung Semiconductor ( Internal ATE)

  • 6.4.14 Teradyne Inc.

  • 6.4.15 Chroma ATE Inc.

  • 6.4.16 SPEA SpA

  • 6.4.17 Astronics Corp.

  • 6.4.18 InTest Corp.

  • 6.4.19 Toray Engineering

  • 6.4.20 Hangzhou ChangChuan Tech.

  • 6.4.21 Exicon Co.

  • 6.4.22 Leader Tech.

  • 6.4.23 Roos Instruments

  • 6.4.24 Virginia Panel Corp.

  • 6.4.25 Aeroflex Inc. (Cobham)

  • 6.4.26 Asset InterTech

7. 시장 기회 및 미래 전망