| ■ 영문 제목 : Global Probe Scanning Microscope Market Growth 2025-2031 | |
 | ■ 상품코드 : LPK23JU0945 ■ 조사/발행회사 : LP Information ■ 발행일 : 2025년 3월 ■ 페이지수 : 90 ■ 작성언어 : 영어 ■ 보고서 형태 : PDF ■ 납품 방식 : E메일 ■ 조사대상 지역 : 글로벌 ■ 산업 분야 : 기계&장치 |
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| LP인포메이션 (LPI) 의 최신 조사 자료는 프로브 스캐닝 현미경의 과거 판매실적을 살펴보고 2024년의 프로브 스캐닝 현미경 판매실적을 검토하여 2025년부터 2031년까지 예상되는 프로브 스캐닝 현미경 판매에 대한 지역 및 시장 세그먼트별 포괄적인 분석을 제공합니다. 글로벌 프로브 스캐닝 현미경 시장규모는 2024년 xxx백만 달러에서 연평균 xx% 성장하여 2031년에는 xxx백만 달러에 달할 것으로 예측되고 있습니다. 본 보고서의 시장규모 데이터는 무역 전쟁 및 러시아-우크라이나 전쟁의 영향을 반영했습니다. 본 조사 자료는 글로벌 프로브 스캐닝 현미경 시장에 관해서 조사, 분석한 보고서로서, 기업별 시장 점유율, 지역별 시장규모 (미주, 미국, 캐나다, 멕시코, 브라질, 아시아 태평양, 중국, 일본, 한국, 동남아시아, 인도, 유럽, 독일, 프랑스, 영국, 이탈리아, 러시아, 중동/아프리카, 이집트, 남아프리카, 터키, 중동GCC국 등), 시장동향, 판매/유통업자/고객 리스트, 시장예측 (2026년-2031년), 주요 기업동향 (기업정보, 제품, 판매량, 매출, 가격, 매출총이익) 등의 정보를 수록하고 있습니다. 또한, 주요지역의 종류별 (고해상도, 초고해상도) 시장규모와 용도별 (학교 연구 개발 기관, 기업 연구 개발 기관) 시장규모 데이터도 포함되어 있습니다. ***** 목차 구성 ***** 보고서의 범위 경영자용 요약 - 글로벌 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 2020년-2031년 - 지역별 프로브 스캐닝 현미경 시장분석 - 종류별 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 2020년-2025년 (고해상도, 초고해상도) - 용도별 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 2020년-2025년 (학교 연구 개발 기관, 기업 연구 개발 기관) 기업별 프로브 스캐닝 현미경 시장분석 - 기업별 프로브 스캐닝 현미경 판매량 - 기업별 프로브 스캐닝 현미경 매출액 - 기업별 프로브 스캐닝 현미경 판매가격 - 주요기업의 프로브 스캐닝 현미경 생산거점, 판매거점 - 시장 집중도 분석 지역별 분석 - 지역별 프로브 스캐닝 현미경 판매량 2020년-2025년 - 지역별 프로브 스캐닝 현미경 매출액 2020년-2025년 미주 시장 - 미주의 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 2020년-2025년 - 미주의 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 : 종류별 - 미주의 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 : 용도별 - 미국 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 - 캐나다 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 - 멕시코 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 - 브라질 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 아시아 태평양 시장 - 아시아 태평양의 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 2020년-2025년 - 아시아 태평양의 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 : 종류별 - 아시아 태평양의 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 : 용도별 - 중국 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 - 일본 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 - 한국 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 - 동남아시아 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 - 인도 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 유럽 시장 - 유럽의 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 2020년-2025년 - 유럽의 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 : 종류별 - 유럽의 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 : 용도별 - 독일 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 - 프랑스 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 - 영국 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 중동/아프리카 시장 - 중동/아프리카의 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 2020년-2025년 - 중동/아프리카의 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 : 종류별 - 중동/아프리카의 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 : 용도별 - 이집트 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 - 남아프리카 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 - 중동GCC 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 시장의 성장요인, 과제, 동향 - 시장의 성장요인, 기회 - 시장의 과제, 리스크 - 산업 동향 제조원가 구조 분석 - 원재료 및 공급업체 - 프로브 스캐닝 현미경의 제조원가 구조 분석 - 프로브 스캐닝 현미경의 제조 프로세스 분석 - 프로브 스캐닝 현미경의 산업체인 구조 마케팅, 유통업체, 고객 - 판매채널 - 프로브 스캐닝 현미경의 유통업체 - 프로브 스캐닝 현미경의 주요 고객 지역별 프로브 스캐닝 현미경 시장 예측 - 지역별 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 예측 2026년-2031년 - 미주 시장 예측 - 아시아 태평양 시장 예측 - 유럽 시장 예측 - 중동/아프리카 시장 예측 - 프로브 스캐닝 현미경의 종류별 시장예측 (고해상도, 초고해상도) - 프로브 스캐닝 현미경의 용도별 시장예측 (학교 연구 개발 기관, 기업 연구 개발 기관) 주요 기업 분석 (기업정보, 제품, 판매량, 매출, 가격, 매출총이익) - Angstrom Advanced, Bruker Nano Surfaces, CAMECA, HORIBA Scientific, Princeton Applied Research, PVA TePla Analytical Systems GmbH, Scienta Omicron 조사의 결과/결론 |
LPI (LP Information)’ newest research report, the “Probe Scanning Microscope Industry Forecast” looks at past sales and reviews total world Probe Scanning Microscope sales in 2024, providing a comprehensive analysis by region and market sector of projected Probe Scanning Microscope sales for 2025 through 2031. With Probe Scanning Microscope sales broken down by region, market sector and sub-sector, this report provides a detailed analysis in US$ millions of the world Probe Scanning Microscope industry.
This Insight Report provides a comprehensive analysis of the global Probe Scanning Microscope landscape and highlights key trends related to product segmentation, company formation, revenue, and market share, latest development, and M&A activity. This report also analyzes the strategies of leading global companies with a focus on Probe Scanning Microscope portfolios and capabilities, market entry strategies, market positions, and geographic footprints, to better understand these firms’ unique position in an accelerating global Probe Scanning Microscope market.
This Insight Report evaluates the key market trends, drivers, and affecting factors shaping the global outlook for Probe Scanning Microscope and breaks down the forecast by type, by application, geography, and market size to highlight emerging pockets of opportunity. With a transparent methodology based on hundreds of bottom-up qualitative and quantitative market inputs, this study forecast offers a highly nuanced view of the current state and future trajectory in the global Probe Scanning Microscope.
The global Probe Scanning Microscope market size is projected to grow from US$ million in 2024 to US$ million in 2031; it is expected to grow at a CAGR of % from 2025 to 2031.
United States market for Probe Scanning Microscope is estimated to increase from US$ million in 2024 to US$ million by 2031, at a CAGR of % from 2025 through 2031.
China market for Probe Scanning Microscope is estimated to increase from US$ million in 2024 to US$ million by 2031, at a CAGR of % from 2025 through 2031.
Europe market for Probe Scanning Microscope is estimated to increase from US$ million in 2024 to US$ million by 2031, at a CAGR of % from 2025 through 2031.
Global key Probe Scanning Microscope players cover Angstrom Advanced, Bruker Nano Surfaces, CAMECA, HORIBA Scientific, Princeton Applied Research, PVA TePla Analytical Systems GmbH and Scienta Omicron, etc. In terms of revenue, the global two largest companies occupied for a share nearly % in 2024.
This report presents a comprehensive overview, market shares, and growth opportunities of Probe Scanning Microscope market by product type, application, key manufacturers and key regions and countries.
[Market Segmentation]
Segmentation by type
High Resolution
Super High Resolution
Segmentation by application
School R&D Institutions
Enterprise R&D Institutions
This report also splits the market by region:
Americas
United States
Canada
Mexico
Brazil
APAC
China
Japan
Korea
Southeast Asia
India
Australia
Europe
Germany
France
UK
Italy
Russia
Middle East & Africa
Egypt
South Africa
Israel
Turkey
GCC Countries
The below companies that are profiled have been selected based on inputs gathered from primary experts and analyzing the company’s coverage, product portfolio, its market penetration.
Angstrom Advanced
Bruker Nano Surfaces
CAMECA
HORIBA Scientific
Princeton Applied Research
PVA TePla Analytical Systems GmbH
Scienta Omicron
[Key Questions Addressed in this Report]
What is the 10-year outlook for the global Probe Scanning Microscope market?
What factors are driving Probe Scanning Microscope market growth, globally and by region?
Which technologies are poised for the fastest growth by market and region?
How do Probe Scanning Microscope market opportunities vary by end market size?
How does Probe Scanning Microscope break out type, application?
What are the influences of trade war and Russia-Ukraine war?
1 Scope of the Report |
| ※참고 정보 프로브 스캐닝 현미경(Probe Scanning Microscope, 이하 PSM)은 매우 날카로운 탐침(probe)을 시료 표면에 매우 가깝게 접근시켜 상호작용을 통해 시료의 표면 구조, 물리적 특성 등을 원자 또는 분자 수준으로 관찰하는 현미경 기술을 총칭하는 말입니다. 기존의 광학 현미경이나 전자 현미경과는 근본적으로 다른 원리를 사용하며, 시료에 직접적인 물리적 접촉 또는 매우 가까운 접근을 통해 정보를 얻는다는 점에서 광학 현미경의 회절 한계를 극복하고 전자 현미경과 유사한 고해상도를 구현하면서도 시료 준비 과정을 크게 간소화할 수 있다는 장점을 지닙니다. 이러한 특징 덕분에 PSM은 기초 과학 연구부터 첨단 산업 분야에 이르기까지 폭넓게 활용되고 있습니다. PSM의 핵심적인 개념은 시료 표면과의 국소적인 상호작용을 정밀하게 제어하고 측정하는 데 있습니다. 탐침은 일반적으로 수 나노미터 이하의 반지름을 가진 매우 날카로운 구조를 가지며, 이 탐침이 시료 표면 위를 스캔하면서 탐침과 시료 표면 사이에서 발생하는 힘(인력, 척력), 터널링 전류, 열 흐름 등 다양한 물리적 상호작용을 감지합니다. 이 감지된 신호는 시료 표면의 3차원적인 형상 정보뿐만 아니라, 표면의 전기적, 자기적, 기계적, 열적 특성 등 다양한 물리적 정보를 포함하게 됩니다. 이러한 신호들을 컴퓨터를 통해 처리하고 분석함으로써 시료 표면의 고해상도 이미지를 얻을 수 있으며, 나아가 시료 표면의 다양한 물리적 특성을 정량적으로 분석할 수 있습니다. PSM의 가장 대표적인 예로는 원자간 힘 현미경(Atomic Force Microscope, AFM)과 주사 터널링 현미경(Scanning Tunneling Microscope, STM)이 있습니다. 원자간 힘 현미경(AFM)은 탐침과 시료 표면 사이에 작용하는 원자간의 힘, 즉 반데르 발스 힘(van der Waals force)이나 정전기적 힘과 같은 상호작용 힘을 측정하는 방식입니다. 탐침이 부착된 캔틸레버(cantilever)의 휘어짐이나 진동 변화를 레이저 시스템을 이용하여 감지합니다. AFM은 시료 표면이 전기적으로 전도성이 없더라도 관찰이 가능하며, 다양한 환경(진공, 대기, 액체)에서 작동할 수 있다는 장점이 있습니다. 또한, 탐침의 끝에 다양한 센서를 부착하여 전기적 특성(비접촉식 AFM의 전기적 저항 측정, KPFM의 일함수 측정), 자기적 특성(Magnetic Force Microscope, MFM), 기계적 특성(접촉식 AFM의 경도 측정), 화학적 특성(AFM 기반의 화학적 감지) 등을 추가적으로 측정할 수 있습니다. 이러한 다기능성은 AFM을 재료 과학, 생명 과학, 나노 기술 등 다양한 분야에서 필수적인 분석 장비로 자리매김하게 했습니다. AFM은 크게 두 가지 모드로 작동할 수 있습니다. 첫 번째는 정적 모드(static mode) 또는 접촉 모드(contact mode)로, 탐침이 시료 표면과 지속적으로 접촉하면서 표면 형상을 얻습니다. 이 모드는 비교적 간단하지만 시료 표면에 손상을 줄 가능성이 있습니다. 두 번째는 동적 모드(dynamic mode) 또는 비접촉 모드(non-contact mode) 및 준접촉 모드(tapping mode)입니다. 비접촉 모드에서는 탐침이 시료 표면 위를 떠서 진동하며 인력만 감지하고, 준접촉 모드에서는 탐침이 시료 표면을 주기적으로 짧게 접촉하며 척력과 인력을 함께 감지합니다. 준접촉 모드는 표면 손상을 최소화하면서도 높은 해상도를 제공하여 가장 널리 사용되는 모드 중 하나입니다. 주사 터널링 현미경(STM)은 전도성 시료의 표면에서 발생하는 양자 역학적 터널링 전류를 측정하는 방식입니다. 금속과 같은 전도성 시료에 날카로운 금속 탐침을 매우 가깝게 접근시키면, 탐침과 시료 사이에 작은 전압을 인가했을 때 양자 역학적인 터널링 현상에 의해 전류가 흐르게 됩니다. 이 터널링 전류는 탐침과 시료 표면 사이의 거리 변화에 매우 민감하게 반응하므로, 이 전류를 일정하게 유지하도록 탐침의 높이를 조절하면서 시료 표면을 스캔하면 원자 수준의 고해상도 표면 형상 이미지를 얻을 수 있습니다. STM은 극히 높은 수직 해상도를 제공하지만, 반드시 전기 전도성이 있는 시료에만 적용 가능하다는 제약이 있습니다. 또한, 작동 환경이 주로 고진공이지만, 최근에는 대기압 또는 액체 환경에서도 작동하는 STM 기술도 개발되고 있습니다. STM은 표면 원자의 배열을 직접적으로 시각화할 수 있다는 점에서 표면 과학 연구의 발전에 크게 기여했으며, 단원자 단위의 물질 조작(원자 리프팅, 위치 이동 등)에도 활용될 수 있습니다. PSM의 발전과 함께 다양한 관련 기술들도 함께 발전해 왔습니다. 고품질의 탐침 제작 기술은 PSM의 해상도와 기능성을 결정하는 매우 중요한 요소입니다. 초정밀 가공 기술을 이용하여 다양한 재료(실리콘, 실리콘 질화물, 다이아몬드 등)로 만들어지는 탐침은 그 형상과 강성, 코팅 재료에 따라 측정할 수 있는 물리적 특성이 달라집니다. 또한, 탐침에 특정 분자를 결합시켜 표면의 특정 물질을 선택적으로 감지하는 화학적 감지 기능이나, 탐침 끝에 압전 소자 등을 부착하여 나노미터 스케일의 힘을 가하는 나노 압입(nanoindentation)과 같은 기계적 특성 측정 기술도 발전하고 있습니다. 시료 스테이지의 정밀한 위치 제어 기술 또한 PSM의 성능에 필수적이며, 초고진공 환경 유지 기술, 노이즈 감소 기술 등도 PSM의 성능 향상에 중요한 역할을 합니다. PSM은 그 뛰어난 해상도와 다양한 물리적 특성 측정 능력으로 인해 여러 과학 및 공학 분야에서 광범위하게 응용되고 있습니다. 재료 과학 분야에서는 신소재의 표면 구조, 결정 성장, 박막 증착 과정 등을 분석하는 데 사용됩니다. 예를 들어, 반도체 소자의 미세 패턴 분석, 촉매 표면의 활성점 관찰, 신축성 전자 재료의 표면 변형 측정 등에 활용됩니다. 생명 과학 분야에서는 단백질, DNA, 세포막과 같은 생체 분자의 구조 및 동적 거동을 관찰하는 데 사용됩니다. 세포 표면의 미세 구조 분석, 약물-단백질 상호작용 연구, 바이오센서 개발 등에 기여하고 있습니다. 또한, 나노 기술 분야에서는 나노 입자의 크기 및 형태 분석, 나노 구조체의 제작 및 조작, 나노 소자의 성능 평가 등 나노 스케일의 연구 개발 전반에 걸쳐 필수적인 도구로 사용됩니다. 결론적으로, 프로브 스캐닝 현미경은 탐침과 시료 표면 간의 상호작용을 이용하여 원자 또는 분자 수준의 초고해상도 이미지를 얻고 다양한 물리적 특성을 측정하는 혁신적인 분석 기술입니다. AFM과 STM을 대표로 하는 PSM은 시료 준비의 간소화, 다양한 환경에서의 측정 가능성, 다기능성 등의 장점을 바탕으로 기초 과학 연구부터 첨단 산업 분야에 이르기까지 광범위한 응용을 가능하게 하며, 끊임없는 기술 발전과 함께 미래 과학 기술 발전에 더욱 중요한 역할을 할 것으로 기대됩니다. |
| ※본 조사보고서 [글로벌 프로브 스캐닝 현미경 시장 2025-2031] (코드 : LPK23JU0945) 판매에 관한 면책사항을 반드시 확인하세요. |
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