| ■ 영문 제목 : Scanning Probe Microscopes Market, Global Outlook and Forecast 2024-2030 | |
 | ■ 상품코드 : MONT2407F45932 ■ 조사/발행회사 : Market Monitor Global ■ 발행일 : 2024년 3월 ■ 페이지수 : 약100 ■ 작성언어 : 영어 ■ 보고서 형태 : PDF ■ 납품 방식 : E메일 (주문후 2-3일 소요) ■ 조사대상 지역 : 글로벌 ■ 산업 분야 : 산업기계/건설 |
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본 조사 보고서는 현재 동향, 시장 역학 및 미래 전망에 초점을 맞춰, 스캐닝 프로브 현미경 시장에 대한 포괄적인 분석을 제공합니다. 본 보고서는 북미, 유럽, 아시아 태평양 및 신흥 시장과 같은 주요 지역을 포함한 전 세계 스캐닝 프로브 현미경 시장을 대상으로 합니다. 또한 스캐닝 프로브 현미경의 성장을 주도하는 주요 요인, 업계가 직면한 과제 및 시장 참여자를 위한 잠재적 기회도 기재합니다.
글로벌 스캐닝 프로브 현미경 시장은 최근 몇 년 동안 환경 문제, 정부 인센티브 및 기술 발전의 증가로 인해 급속한 성장을 목격했습니다. 스캐닝 프로브 현미경 시장은 반도체, 재료 및 나노 소재 연구, 생명 과학, 의료, 기타를 포함한 다양한 이해 관계자에게 기회를 제공합니다. 민간 부문과 정부 간의 협력은 스캐닝 프로브 현미경 시장에 대한 지원 정책, 연구 개발 노력 및 투자를 가속화 할 수 있습니다. 또한 증가하는 소비자 수요는 시장 확장의 길을 제시합니다.
글로벌 스캐닝 프로브 현미경 시장은 2023년에 미화 XXX백만 달러로 조사되었으며 2030년까지 미화 XXX백만 달러에 도달할 것으로 예상되며, 예측 기간 동안 XXX%의 CAGR로 성장할 것으로 예상됩니다.
[주요 특징]
스캐닝 프로브 현미경 시장에 대한 조사 보고서에는 포괄적인 통찰력을 제공하고 이해 관계자의 의사 결정을 용이하게하는 몇 가지 주요 항목이 포함되어 있습니다.
요약 : 본 보고서는 스캐닝 프로브 현미경 시장의 주요 결과, 시장 동향 및 주요 통찰력에 대한 개요를 제공합니다.
시장 개요: 본 보고서는 스캐닝 프로브 현미경 시장의 정의, 역사적 추이, 현재 시장 규모를 포함한 포괄적인 개요를 제공합니다. 종류(예: 원자력 현미경 (AFM), 스캐닝 터널링 현미경 (STM), 근거리 스캐닝 광학 현미경 (NSOM)), 지역 및 용도별로 시장을 세분화하여 각 세그먼트 내의 주요 동인, 과제 및 기회를 중점적으로 다룹니다.
시장 역학: 본 보고서는 스캐닝 프로브 현미경 시장의 성장과 발전을 주도하는 시장 역학을 분석합니다. 본 보고서에는 정부 정책 및 규정, 기술 발전, 소비자 동향 및 선호도, 인프라 개발, 업계 협력에 대한 평가가 포함되어 있습니다. 이 분석은 이해 관계자가 스캐닝 프로브 현미경 시장의 궤적에 영향을 미치는 요인을 이해하는데 도움이됩니다.
경쟁 환경: 본 보고서는 스캐닝 프로브 현미경 시장내 경쟁 환경에 대한 심층 분석을 제공합니다. 여기에는 주요 시장 플레이어의 프로필, 시장 점유율, 전략, 제품 포트폴리오 및 최근 동향이 포함됩니다.
시장 세분화 및 예측: 본 보고서는 종류, 지역 및 용도와 같은 다양한 매개 변수를 기반으로 스캐닝 프로브 현미경 시장을 세분화합니다. 정량적 데이터 및 분석을 통해 각 세그먼트의 시장 규모와 성장 예측을 제공합니다. 이를 통해 이해 관계자가 성장 기회를 파악하고 정보에 입각한 투자 결정을 내릴 수 있습니다.
기술 동향: 본 보고서는 주요기술의 발전과 새로운 대체품 등 스캐닝 프로브 현미경 시장을 형성하는 주요 기술 동향을 강조합니다. 이러한 트렌드가 시장 성장, 채택률, 소비자 선호도에 미치는 영향을 분석합니다.
시장 과제와 기회: 본 보고서는 기술적 병목 현상, 비용 제한, 높은 진입 장벽 등 스캐닝 프로브 현미경 시장이 직면한 주요 과제를 파악하고 분석합니다. 또한 정부 인센티브, 신흥 시장, 이해관계자 간의 협업 등 시장 성장의 기회에 대해서도 강조합니다.
규제 및 정책 분석: 본 보고서는 정부 인센티브, 배출 기준, 인프라 개발 계획 등 스캐닝 프로브 현미경에 대한 규제 및 정책 환경을 평가합니다. 이러한 정책이 시장 성장에 미치는 영향을 분석하고 향후 규제 동향에 대한 인사이트를 제공합니다.
권장 사항 및 결론: 본 보고서는 소비자, 정책 입안자, 투자자, 인프라 제공업체 등 이해관계자를 위한 실행 가능한 권고 사항으로 마무리합니다. 이러한 권장 사항은 조사 결과를 바탕으로 스캐닝 프로브 현미경 시장의 주요 과제와 기회를 해결할 수 있습니다.
참고 데이터 및 부록: 보고서에는 분석 및 조사 결과를 입증하기 위한 보조 데이터, 차트, 그래프가 포함되어 있습니다. 또한 데이터 소스, 설문조사, 상세한 시장 예측과 같은 추가 세부 정보가 담긴 부록도 포함되어 있습니다.
[시장 세분화]
스캐닝 프로브 현미경 시장은 종류별 및 용도별로 세분화됩니다. 2019-2030년 기간 동안 세그먼트 간의 성장은 종류별 및 용도별로 시장규모에 대한 정확한 계산 및 예측을 볼륨 및 금액 측면에서 제공합니다.
■ 종류별 시장 세그먼트
– 원자력 현미경 (AFM), 스캐닝 터널링 현미경 (STM), 근거리 스캐닝 광학 현미경 (NSOM)
■ 용도별 시장 세그먼트
– 반도체, 재료 및 나노 소재 연구, 생명 과학, 의료, 기타
■ 지역별 및 국가별 글로벌 스캐닝 프로브 현미경 시장 점유율, 2023년(%)
– 북미 (미국, 캐나다, 멕시코)
– 유럽 (독일, 프랑스, 영국, 이탈리아, 러시아)
– 아시아 (중국, 일본, 한국, 동남아시아, 인도)
– 남미 (브라질, 아르헨티나)
– 중동 및 아프리카 (터키, 이스라엘, 사우디 아라비아, UAE)
■ 주요 업체
– Agilent Technologies, Bruker Nano, Hitachi High-Tech Science Corporation, NT-MDT, Oxford Instruments/Asylum Research, Park Systems, AIST-NT, Anasys Instruments, Anfatec, Angstrom Advanced Inc., APE research srl, JPK Instruments, Kleindiek Nanotechnik, Multiprobe, Inc, Nanonics Imaging
[주요 챕터의 개요]
1 장 : 스캐닝 프로브 현미경의 정의, 시장 개요를 소개
2 장 : 매출 및 판매량을 기준으로한 글로벌 스캐닝 프로브 현미경 시장 규모
3 장 : 스캐닝 프로브 현미경 제조업체 경쟁 환경, 가격, 판매량 및 매출 시장 점유율, 최신 동향, M&A 정보 등에 대한 자세한 분석
4 장 : 종류별 시장 분석을 제공 (각 세그먼트의 시장 규모와 성장 잠재력을 다룸)
5 장 : 용도별 시장 분석을 제공 (각 세그먼트의 시장 규모와 성장 잠재력을 다룸)
6 장 : 지역 및 국가별 스캐닝 프로브 현미경 판매량. 각 지역 및 주요 국가의 시장 규모와 성장 잠재력에 대한 정량적 분석을 제공. 세계 각국의 시장 개발, 향후 개발 전망, 시장 기회을 소개
7 장 : 주요 업체의 프로필을 제공. 제품 판매, 매출, 가격, 총 마진, 제품 소개, 최근 동향 등 시장 내 주요 업체의 기본 상황을 자세히 소개
8 장 : 지역별 및 국가별 글로벌 스캐닝 프로브 현미경 시장규모
9 장 : 시장 역학, 시장의 최신 동향, 시장의 추진 요인 및 제한 요인, 업계내 업체가 직면한 과제 및 리스크, 업계의 관련 정책 분석을 소개
10 장 : 산업의 업 스트림 및 다운 스트림을 포함한 산업 체인 분석
11 장 : 보고서의 주요 요점 및 결론
※납품 보고서의 구성항목 및 내용은 본 페이지에 기재된 내용과 다를 수 있습니다. 보고서 주문 전에 당사에 보고서 샘플을 요청해서 구성항목 및 기재 내용을 반드시 확인하시길 바랍니다. 보고서 샘플에 없는 내용은 납품 드리는 보고서에도 포함되지 않습니다.
■ 보고서 목차1. 조사 및 분석 보고서 소개 2. 글로벌 스캐닝 프로브 현미경 전체 시장 규모 3. 기업 환경 4. 종류별 시장 분석 5. 용도별 시장 분석 6. 지역별 시장 분석 7. 제조업체 및 브랜드 프로필 Agilent Technologies, Bruker Nano, Hitachi High-Tech Science Corporation, NT-MDT, Oxford Instruments/Asylum Research, Park Systems, AIST-NT, Anasys Instruments, Anfatec, Angstrom Advanced Inc., APE research srl, JPK Instruments, Kleindiek Nanotechnik, Multiprobe, Inc, Nanonics Imaging Agilent Technologies Bruker Nano Hitachi High-Tech Science Corporation 8. 글로벌 스캐닝 프로브 현미경 생산 능력 분석 9. 주요 시장 동향, 기회, 동인 및 제약 요인 10. 스캐닝 프로브 현미경 공급망 분석 11. 결론 [그림 목록]- 종류별 스캐닝 프로브 현미경 세그먼트, 2023년 - 용도별 스캐닝 프로브 현미경 세그먼트, 2023년 - 글로벌 스캐닝 프로브 현미경 시장 개요, 2023년 - 글로벌 스캐닝 프로브 현미경 시장 규모: 2023년 VS 2030년 - 글로벌 스캐닝 프로브 현미경 매출, 2019-2030 - 글로벌 스캐닝 프로브 현미경 판매량: 2019-2030 - 스캐닝 프로브 현미경 매출 기준 상위 3개 및 5개 업체 시장 점유율, 2023년 - 글로벌 종류별 스캐닝 프로브 현미경 매출, 2023년 VS 2030년 - 글로벌 종류별 스캐닝 프로브 현미경 매출 시장 점유율 - 글로벌 종류별 스캐닝 프로브 현미경 판매량 시장 점유율 - 글로벌 종류별 스캐닝 프로브 현미경 가격 - 글로벌 용도별 스캐닝 프로브 현미경 매출, 2023년 VS 2030년 - 글로벌 용도별 스캐닝 프로브 현미경 매출 시장 점유율 - 글로벌 용도별 스캐닝 프로브 현미경 판매량 시장 점유율 - 글로벌 용도별 스캐닝 프로브 현미경 가격 - 지역별 스캐닝 프로브 현미경 매출, 2023년 VS 2030년 - 지역별 스캐닝 프로브 현미경 매출 시장 점유율 - 지역별 스캐닝 프로브 현미경 매출 시장 점유율 - 지역별 스캐닝 프로브 현미경 판매량 시장 점유율 - 북미 국가별 스캐닝 프로브 현미경 매출 시장 점유율 - 북미 국가별 스캐닝 프로브 현미경 판매량 시장 점유율 - 미국 스캐닝 프로브 현미경 시장규모 - 캐나다 스캐닝 프로브 현미경 시장규모 - 멕시코 스캐닝 프로브 현미경 시장규모 - 유럽 국가별 스캐닝 프로브 현미경 매출 시장 점유율 - 유럽 국가별 스캐닝 프로브 현미경 판매량 시장 점유율 - 독일 스캐닝 프로브 현미경 시장규모 - 프랑스 스캐닝 프로브 현미경 시장규모 - 영국 스캐닝 프로브 현미경 시장규모 - 이탈리아 스캐닝 프로브 현미경 시장규모 - 러시아 스캐닝 프로브 현미경 시장규모 - 아시아 지역별 스캐닝 프로브 현미경 매출 시장 점유율 - 아시아 지역별 스캐닝 프로브 현미경 판매량 시장 점유율 - 중국 스캐닝 프로브 현미경 시장규모 - 일본 스캐닝 프로브 현미경 시장규모 - 한국 스캐닝 프로브 현미경 시장규모 - 동남아시아 스캐닝 프로브 현미경 시장규모 - 인도 스캐닝 프로브 현미경 시장규모 - 남미 국가별 스캐닝 프로브 현미경 매출 시장 점유율 - 남미 국가별 스캐닝 프로브 현미경 판매량 시장 점유율 - 브라질 스캐닝 프로브 현미경 시장규모 - 아르헨티나 스캐닝 프로브 현미경 시장규모 - 중동 및 아프리카 국가별 스캐닝 프로브 현미경 매출 시장 점유율 - 중동 및 아프리카 국가별 스캐닝 프로브 현미경 판매량 시장 점유율 - 터키 스캐닝 프로브 현미경 시장규모 - 이스라엘 스캐닝 프로브 현미경 시장규모 - 사우디 아라비아 스캐닝 프로브 현미경 시장규모 - 아랍에미리트 스캐닝 프로브 현미경 시장규모 - 글로벌 스캐닝 프로브 현미경 생산 능력 - 지역별 스캐닝 프로브 현미경 생산량 비중, 2023년 VS 2030년 - 스캐닝 프로브 현미경 산업 가치 사슬 - 마케팅 채널 ※납품 보고서의 구성항목 및 내용은 본 페이지에 기재된 내용과 다를 수 있습니다. 보고서 주문 전에 당사에 보고서 샘플을 요청해서 구성항목 및 기재 내용을 반드시 확인하시길 바랍니다. 보고서 샘플에 없는 내용은 납품 드리는 보고서에도 포함되지 않습니다. |
| ※참고 정보 ## 스캐닝 프로브 현미경 (Scanning Probe Microscopes) 스캐닝 프로브 현미경(Scanning Probe Microscopes, SPM)은 시료 표면의 미세 구조를 원자 수준까지 매우 높은 해상도로 관찰할 수 있는 혁신적인 현미경 기술입니다. 일반적인 광학 현미경이나 전자 현미경과는 달리, SPM은 매우 날카로운 탐침(probe)을 시료 표면 가까이 이동시키면서 탐침과 시료 간의 상호작용을 측정하여 표면 형상, 물리적 특성 등을 파악합니다. 이러한 원리 덕분에 SPM은 시료 준비 과정이 간편하고, 비전도성 시료도 관찰할 수 있으며, 진공 환경이 아닌 대기압 또는 액체 환경에서도 작동이 가능하다는 큰 장점을 지니고 있습니다. SPM의 기본 개념은 시료 표면을 일정한 방식으로 스캔하면서 탐침과 시료 간의 물리적 상호작용을 감지하는 것입니다. 탐침은 일반적으로 수 나노미터(nm) 이하의 매우 작은 반경을 가지는 날카로운 끝을 가지고 있으며, 이 탐침이 시료 표면을 가로지르며 다양한 물리량을 측정하게 됩니다. 측정되는 물리량은 탐침과 시료 간의 거리에 따라 변화하는 힘(force), 전기적 상호작용, 자기적 상호작용 등 매우 다양하며, 이러한 변화를 전기적 신호로 변환하여 컴퓨터에 기록하고 영상화하는 방식입니다. SPM은 이러한 물리량의 변화를 시료 표면의 높이 정보와 대응시켜 3차원적인 표면 형상 데이터를 얻거나, 특정 물리량의 분포를 영상화할 수 있습니다. SPM의 가장 큰 특징은 그 뛰어난 해상도에 있습니다. 원자 수준의 해상도를 달성함으로써, 기존의 현미경으로는 불가능했던 개별 원자의 배열이나 분자의 구조를 직접 관찰하는 것이 가능해졌습니다. 또한, SPM은 표면의 물리적 특성을 측정하는 데 특화되어 있어, 표면의 거칠기, 마찰력, 탄성, 전기적 전도성, 자기적 성질 등을 나노 스케일에서 분석할 수 있습니다. 이러한 기능성은 SPM을 과학 연구뿐만 아니라 다양한 산업 분야에서도 매우 유용하게 만들고 있습니다. SPM은 탐침과 시료 간의 상호작용 방식을 기반으로 여러 종류로 분류될 수 있습니다. 가장 대표적인 것이 **원자간 힘 현미경(Atomic Force Microscope, AFM)**입니다. AFM은 탐침과 시료 표면 사이의 원자 간 힘, 즉 반데르발스 힘, 정전기력, 모세관 힘 등을 측정합니다. AFM은 작동 모드에 따라 크게 두 가지로 나뉩니다. **접촉 모드(Contact Mode)**에서는 탐침이 시료 표면과 지속적으로 접촉하면서 스캔하며, 탐침에 가해지는 수직력 또는 수평력을 측정합니다. 이 모드는 간단하고 빠른 스캔이 가능하지만, 시료 표면에 손상을 줄 수 있다는 단점이 있습니다. **비접촉 모드(Non-contact Mode)**에서는 탐침이 시료 표면 바로 위에 떠 있는 상태에서 탐침의 진동 주파수 변화나 진폭 변화를 측정합니다. 이 모드는 시료에 가해지는 힘이 매우 작아 시료 손상이 거의 없지만, 스캔 속도가 느리고 수분 막 등의 외부 요인에 민감하다는 특징이 있습니다. 또한, **간헐적 접촉 모드(Intermittent Contact Mode 또는 Tapping Mode)**는 탐침을 진동시키면서 시료 표면과 짧은 시간 동안만 접촉시키는 방식으로, 접촉 모드의 빠른 스캔 속도와 비접촉 모드의 낮은 시료 손상이라는 장점을 결합한 형태입니다. 또 다른 중요한 SPM 기술로는 **주사 터널링 현미경(Scanning Tunneling Microscope, STM)**이 있습니다. STM은 금속이나 반도체와 같이 전도성이 있는 시료의 표면을 관찰하는 데 주로 사용됩니다. STM은 매우 날카로운 금속 탐침과 시료 표면 사이에 낮은 전압을 걸어주면 발생하는 양자 역학적인 터널링 전류를 측정합니다. 이 터널링 전류는 탐침과 시료 표면 사이의 거리에 매우 민감하게 변하기 때문에, 일정한 터널링 전류를 유지하도록 탐침의 높이를 조절하면서 스캔하면 원자 수준의 표면 형상 정보를 얻을 수 있습니다. STM은 AFM보다 더 높은 해상도를 제공할 수 있지만, 시료의 전도성이 필수적이라는 제약이 있습니다. SPM의 응용 분야는 매우 광범위합니다. 과학 연구 분야에서는 재료 과학에서 신소재의 표면 구조 분석, 나노 입자의 형태 및 분포 관찰, 박막의 성장 메커니즘 연구 등에 활용됩니다. 물리학 분야에서는 고체 표면의 전자 구조, 자기적 도메인 관찰, 양자 점의 특성 연구 등에 사용됩니다. 화학 분야에서는 촉매 표면의 활성점 관찰, 단분자 반응 분석, 생체 분자의 구조 및 상호작용 연구 등에 응용됩니다. 특히 생명 과학 분야에서는 세포막 구조, 단백질의 3차원 구조, DNA 이중 나선 구조 등을 직접 관찰하고 분석하는 데 크게 기여하고 있습니다. 산업 분야에서도 SPM의 중요성은 날로 커지고 있습니다. 반도체 산업에서는 미세 패턴의 측정 및 검사, 회로의 결함 분석, 나노 공정 개발 등에 필수적으로 사용됩니다. 디스플레이 산업에서는 화면 패널의 표면 결함 검사 및 품질 관리에 활용됩니다. 또한, 신약 개발 및 생명 공학 분야에서는 약물과 단백질의 상호작용 연구, 나노 의학 기술 개발 등에 SPM이 중요한 역할을 하고 있습니다. 바이오센서 개발, 나노 입자를 이용한 신소재 개발 등 첨단 산업 분야에서도 SPM은 핵심적인 분석 도구로 자리매김하고 있습니다. SPM 기술의 발전과 더불어 다양한 **관련 기술**들이 함께 발전하고 있습니다. 먼저, 고해상도 이미지를 얻기 위해서는 탐침의 성능이 매우 중요합니다. 더욱 날카롭고 안정적인 탐침을 제작하기 위한 나노 가공 기술이 지속적으로 발전하고 있으며, 다양한 재료로 코팅된 탐침을 사용하여 특정 물리량에 대한 민감도를 높이려는 연구도 활발히 진행되고 있습니다. 또한, SPM의 스캔 속도를 향상시키고 더 넓은 영역을 효율적으로 관찰하기 위한 스캔 시스템의 개선도 중요합니다. 고속 스캐닝 기술, 다중 탐침 시스템 등이 연구되고 있습니다. SPM 데이터를 분석하고 시각화하는 소프트웨어 기술 또한 SPM의 활용도를 높이는 데 기여합니다. 복잡한 표면 형상 데이터를 직관적으로 이해하고 정량적인 분석을 수행하기 위한 고급 분석 알고리즘 및 3차원 시각화 기술이 개발되고 있습니다. 더 나아가, SPM을 다른 현미경 기술과 결합하는 **하이브리드 현미경 기술**도 주목받고 있습니다. 예를 들어, SPM과 광학 현미경을 결합한 시스템은 표면 형상 정보와 광학적 특성 정보를 동시에 얻을 수 있어 더욱 풍부한 분석이 가능하게 합니다. 또한, SPM과 전자 현미경을 결합하여 고해상도 표면 형상 정보와 표면 조성 정보를 함께 얻는 연구도 진행되고 있습니다. SPM의 발전은 나노 기술 시대의 핵심적인 동력 중 하나라고 할 수 있습니다. 나노 스케일에서의 물질의 특성을 이해하고 제어하는 능력은 다양한 첨단 기술의 발전을 이끌고 있으며, SPM은 이러한 나노 스케일에서의 탐구와 혁신을 가능하게 하는 가장 강력한 도구 중 하나입니다. 앞으로도 SPM 기술은 더욱 발전하여 새로운 과학적 발견과 기술적 혁신을 이끌어낼 것으로 기대됩니다. |
| ※본 조사보고서 [글로벌 스캐닝 프로브 현미경 시장예측 2024-2030] (코드 : MONT2407F45932) 판매에 관한 면책사항을 반드시 확인하세요. |
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