| ■ 영문 제목 : Scanning Transmission Electron Microscopy Market, Global Outlook and Forecast 2024-2030 | |
 | ■ 상품코드 : MONT2407F45935 ■ 조사/발행회사 : Market Monitor Global ■ 발행일 : 2024년 3월 ■ 페이지수 : 약100 ■ 작성언어 : 영어 ■ 보고서 형태 : PDF ■ 납품 방식 : E메일 (주문후 2-3일 소요) ■ 조사대상 지역 : 글로벌 ■ 산업 분야 : 산업기계/건설 |
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본 조사 보고서는 현재 동향, 시장 역학 및 미래 전망에 초점을 맞춰, 스캐닝 투과 전자 현미경 시장에 대한 포괄적인 분석을 제공합니다. 본 보고서는 북미, 유럽, 아시아 태평양 및 신흥 시장과 같은 주요 지역을 포함한 전 세계 스캐닝 투과 전자 현미경 시장을 대상으로 합니다. 또한 스캐닝 투과 전자 현미경의 성장을 주도하는 주요 요인, 업계가 직면한 과제 및 시장 참여자를 위한 잠재적 기회도 기재합니다.
글로벌 스캐닝 투과 전자 현미경 시장은 최근 몇 년 동안 환경 문제, 정부 인센티브 및 기술 발전의 증가로 인해 급속한 성장을 목격했습니다. 스캐닝 투과 전자 현미경 시장은 재료 과학, 생물학, 기타를 포함한 다양한 이해 관계자에게 기회를 제공합니다. 민간 부문과 정부 간의 협력은 스캐닝 투과 전자 현미경 시장에 대한 지원 정책, 연구 개발 노력 및 투자를 가속화 할 수 있습니다. 또한 증가하는 소비자 수요는 시장 확장의 길을 제시합니다.
글로벌 스캐닝 투과 전자 현미경 시장은 2023년에 미화 XXX백만 달러로 조사되었으며 2030년까지 미화 XXX백만 달러에 도달할 것으로 예상되며, 예측 기간 동안 XXX%의 CAGR로 성장할 것으로 예상됩니다.
[주요 특징]
스캐닝 투과 전자 현미경 시장에 대한 조사 보고서에는 포괄적인 통찰력을 제공하고 이해 관계자의 의사 결정을 용이하게하는 몇 가지 주요 항목이 포함되어 있습니다.
요약 : 본 보고서는 스캐닝 투과 전자 현미경 시장의 주요 결과, 시장 동향 및 주요 통찰력에 대한 개요를 제공합니다.
시장 개요: 본 보고서는 스캐닝 투과 전자 현미경 시장의 정의, 역사적 추이, 현재 시장 규모를 포함한 포괄적인 개요를 제공합니다. 종류(예: 전자 에너지 손실 분광법, 에너지 분산 X선 분광법, 기타), 지역 및 용도별로 시장을 세분화하여 각 세그먼트 내의 주요 동인, 과제 및 기회를 중점적으로 다룹니다.
시장 역학: 본 보고서는 스캐닝 투과 전자 현미경 시장의 성장과 발전을 주도하는 시장 역학을 분석합니다. 본 보고서에는 정부 정책 및 규정, 기술 발전, 소비자 동향 및 선호도, 인프라 개발, 업계 협력에 대한 평가가 포함되어 있습니다. 이 분석은 이해 관계자가 스캐닝 투과 전자 현미경 시장의 궤적에 영향을 미치는 요인을 이해하는데 도움이됩니다.
경쟁 환경: 본 보고서는 스캐닝 투과 전자 현미경 시장내 경쟁 환경에 대한 심층 분석을 제공합니다. 여기에는 주요 시장 플레이어의 프로필, 시장 점유율, 전략, 제품 포트폴리오 및 최근 동향이 포함됩니다.
시장 세분화 및 예측: 본 보고서는 종류, 지역 및 용도와 같은 다양한 매개 변수를 기반으로 스캐닝 투과 전자 현미경 시장을 세분화합니다. 정량적 데이터 및 분석을 통해 각 세그먼트의 시장 규모와 성장 예측을 제공합니다. 이를 통해 이해 관계자가 성장 기회를 파악하고 정보에 입각한 투자 결정을 내릴 수 있습니다.
기술 동향: 본 보고서는 주요기술의 발전과 새로운 대체품 등 스캐닝 투과 전자 현미경 시장을 형성하는 주요 기술 동향을 강조합니다. 이러한 트렌드가 시장 성장, 채택률, 소비자 선호도에 미치는 영향을 분석합니다.
시장 과제와 기회: 본 보고서는 기술적 병목 현상, 비용 제한, 높은 진입 장벽 등 스캐닝 투과 전자 현미경 시장이 직면한 주요 과제를 파악하고 분석합니다. 또한 정부 인센티브, 신흥 시장, 이해관계자 간의 협업 등 시장 성장의 기회에 대해서도 강조합니다.
규제 및 정책 분석: 본 보고서는 정부 인센티브, 배출 기준, 인프라 개발 계획 등 스캐닝 투과 전자 현미경에 대한 규제 및 정책 환경을 평가합니다. 이러한 정책이 시장 성장에 미치는 영향을 분석하고 향후 규제 동향에 대한 인사이트를 제공합니다.
권장 사항 및 결론: 본 보고서는 소비자, 정책 입안자, 투자자, 인프라 제공업체 등 이해관계자를 위한 실행 가능한 권고 사항으로 마무리합니다. 이러한 권장 사항은 조사 결과를 바탕으로 스캐닝 투과 전자 현미경 시장의 주요 과제와 기회를 해결할 수 있습니다.
참고 데이터 및 부록: 보고서에는 분석 및 조사 결과를 입증하기 위한 보조 데이터, 차트, 그래프가 포함되어 있습니다. 또한 데이터 소스, 설문조사, 상세한 시장 예측과 같은 추가 세부 정보가 담긴 부록도 포함되어 있습니다.
[시장 세분화]
스캐닝 투과 전자 현미경 시장은 종류별 및 용도별로 세분화됩니다. 2019-2030년 기간 동안 세그먼트 간의 성장은 종류별 및 용도별로 시장규모에 대한 정확한 계산 및 예측을 볼륨 및 금액 측면에서 제공합니다.
■ 종류별 시장 세그먼트
– 전자 에너지 손실 분광법, 에너지 분산 X선 분광법, 기타
■ 용도별 시장 세그먼트
– 재료 과학, 생물학, 기타
■ 지역별 및 국가별 글로벌 스캐닝 투과 전자 현미경 시장 점유율, 2023년(%)
– 북미 (미국, 캐나다, 멕시코)
– 유럽 (독일, 프랑스, 영국, 이탈리아, 러시아)
– 아시아 (중국, 일본, 한국, 동남아시아, 인도)
– 남미 (브라질, 아르헨티나)
– 중동 및 아프리카 (터키, 이스라엘, 사우디 아라비아, UAE)
■ 주요 업체
– FEI, JEOL, Hitachi, Zeiss, Delong, Cordouan
[주요 챕터의 개요]
1 장 : 스캐닝 투과 전자 현미경의 정의, 시장 개요를 소개
2 장 : 매출 및 판매량을 기준으로한 글로벌 스캐닝 투과 전자 현미경 시장 규모
3 장 : 스캐닝 투과 전자 현미경 제조업체 경쟁 환경, 가격, 판매량 및 매출 시장 점유율, 최신 동향, M&A 정보 등에 대한 자세한 분석
4 장 : 종류별 시장 분석을 제공 (각 세그먼트의 시장 규모와 성장 잠재력을 다룸)
5 장 : 용도별 시장 분석을 제공 (각 세그먼트의 시장 규모와 성장 잠재력을 다룸)
6 장 : 지역 및 국가별 스캐닝 투과 전자 현미경 판매량. 각 지역 및 주요 국가의 시장 규모와 성장 잠재력에 대한 정량적 분석을 제공. 세계 각국의 시장 개발, 향후 개발 전망, 시장 기회을 소개
7 장 : 주요 업체의 프로필을 제공. 제품 판매, 매출, 가격, 총 마진, 제품 소개, 최근 동향 등 시장 내 주요 업체의 기본 상황을 자세히 소개
8 장 : 지역별 및 국가별 글로벌 스캐닝 투과 전자 현미경 시장규모
9 장 : 시장 역학, 시장의 최신 동향, 시장의 추진 요인 및 제한 요인, 업계내 업체가 직면한 과제 및 리스크, 업계의 관련 정책 분석을 소개
10 장 : 산업의 업 스트림 및 다운 스트림을 포함한 산업 체인 분석
11 장 : 보고서의 주요 요점 및 결론
※납품 보고서의 구성항목 및 내용은 본 페이지에 기재된 내용과 다를 수 있습니다. 보고서 주문 전에 당사에 보고서 샘플을 요청해서 구성항목 및 기재 내용을 반드시 확인하시길 바랍니다. 보고서 샘플에 없는 내용은 납품 드리는 보고서에도 포함되지 않습니다.
■ 보고서 목차1. 조사 및 분석 보고서 소개 2. 글로벌 스캐닝 투과 전자 현미경 전체 시장 규모 3. 기업 환경 4. 종류별 시장 분석 5. 용도별 시장 분석 6. 지역별 시장 분석 7. 제조업체 및 브랜드 프로필 FEI, JEOL, Hitachi, Zeiss, Delong, Cordouan FEI JEOL Hitachi 8. 글로벌 스캐닝 투과 전자 현미경 생산 능력 분석 9. 주요 시장 동향, 기회, 동인 및 제약 요인 10. 스캐닝 투과 전자 현미경 공급망 분석 11. 결론 [그림 목록]- 종류별 스캐닝 투과 전자 현미경 세그먼트, 2023년 - 용도별 스캐닝 투과 전자 현미경 세그먼트, 2023년 - 글로벌 스캐닝 투과 전자 현미경 시장 개요, 2023년 - 글로벌 스캐닝 투과 전자 현미경 시장 규모: 2023년 VS 2030년 - 글로벌 스캐닝 투과 전자 현미경 매출, 2019-2030 - 글로벌 스캐닝 투과 전자 현미경 판매량: 2019-2030 - 스캐닝 투과 전자 현미경 매출 기준 상위 3개 및 5개 업체 시장 점유율, 2023년 - 글로벌 종류별 스캐닝 투과 전자 현미경 매출, 2023년 VS 2030년 - 글로벌 종류별 스캐닝 투과 전자 현미경 매출 시장 점유율 - 글로벌 종류별 스캐닝 투과 전자 현미경 판매량 시장 점유율 - 글로벌 종류별 스캐닝 투과 전자 현미경 가격 - 글로벌 용도별 스캐닝 투과 전자 현미경 매출, 2023년 VS 2030년 - 글로벌 용도별 스캐닝 투과 전자 현미경 매출 시장 점유율 - 글로벌 용도별 스캐닝 투과 전자 현미경 판매량 시장 점유율 - 글로벌 용도별 스캐닝 투과 전자 현미경 가격 - 지역별 스캐닝 투과 전자 현미경 매출, 2023년 VS 2030년 - 지역별 스캐닝 투과 전자 현미경 매출 시장 점유율 - 지역별 스캐닝 투과 전자 현미경 매출 시장 점유율 - 지역별 스캐닝 투과 전자 현미경 판매량 시장 점유율 - 북미 국가별 스캐닝 투과 전자 현미경 매출 시장 점유율 - 북미 국가별 스캐닝 투과 전자 현미경 판매량 시장 점유율 - 미국 스캐닝 투과 전자 현미경 시장규모 - 캐나다 스캐닝 투과 전자 현미경 시장규모 - 멕시코 스캐닝 투과 전자 현미경 시장규모 - 유럽 국가별 스캐닝 투과 전자 현미경 매출 시장 점유율 - 유럽 국가별 스캐닝 투과 전자 현미경 판매량 시장 점유율 - 독일 스캐닝 투과 전자 현미경 시장규모 - 프랑스 스캐닝 투과 전자 현미경 시장규모 - 영국 스캐닝 투과 전자 현미경 시장규모 - 이탈리아 스캐닝 투과 전자 현미경 시장규모 - 러시아 스캐닝 투과 전자 현미경 시장규모 - 아시아 지역별 스캐닝 투과 전자 현미경 매출 시장 점유율 - 아시아 지역별 스캐닝 투과 전자 현미경 판매량 시장 점유율 - 중국 스캐닝 투과 전자 현미경 시장규모 - 일본 스캐닝 투과 전자 현미경 시장규모 - 한국 스캐닝 투과 전자 현미경 시장규모 - 동남아시아 스캐닝 투과 전자 현미경 시장규모 - 인도 스캐닝 투과 전자 현미경 시장규모 - 남미 국가별 스캐닝 투과 전자 현미경 매출 시장 점유율 - 남미 국가별 스캐닝 투과 전자 현미경 판매량 시장 점유율 - 브라질 스캐닝 투과 전자 현미경 시장규모 - 아르헨티나 스캐닝 투과 전자 현미경 시장규모 - 중동 및 아프리카 국가별 스캐닝 투과 전자 현미경 매출 시장 점유율 - 중동 및 아프리카 국가별 스캐닝 투과 전자 현미경 판매량 시장 점유율 - 터키 스캐닝 투과 전자 현미경 시장규모 - 이스라엘 스캐닝 투과 전자 현미경 시장규모 - 사우디 아라비아 스캐닝 투과 전자 현미경 시장규모 - 아랍에미리트 스캐닝 투과 전자 현미경 시장규모 - 글로벌 스캐닝 투과 전자 현미경 생산 능력 - 지역별 스캐닝 투과 전자 현미경 생산량 비중, 2023년 VS 2030년 - 스캐닝 투과 전자 현미경 산업 가치 사슬 - 마케팅 채널 ※납품 보고서의 구성항목 및 내용은 본 페이지에 기재된 내용과 다를 수 있습니다. 보고서 주문 전에 당사에 보고서 샘플을 요청해서 구성항목 및 기재 내용을 반드시 확인하시길 바랍니다. 보고서 샘플에 없는 내용은 납품 드리는 보고서에도 포함되지 않습니다. |
| ※참고 정보 스캐닝 투과 전자 현미경(Scanning Transmission Electron Microscopy, STEM)은 투과 전자 현미경(Transmission Electron Microscopy, TEM)의 한 형태로, 전자빔을 시료 표면에 매우 가늘게 집속시켜 시료를 한 점씩 스캔하면서 투과하는 전자 또는 방출되는 이차 전자, 에너지 손실 전자 등을 검출하여 시료의 내부 구조를 영상화하는 고분해능 분석 장비입니다. TEM이 넓은 영역의 전자빔을 시료에 조사하여 시료를 통과하는 전자들의 상을 직접 형성하는 것과는 달리, STEM은 시료를 스캔하는 전자빔을 사용한다는 점에서 근본적인 차이가 있습니다. 이러한 스캔 방식은 TEM이 갖는 한계를 극복하고 더욱 다양한 분석 정보를 얻을 수 있게 합니다. STEM의 핵심적인 특징은 매우 작게 집속된 전자빔을 사용하여 시료를 점진적으로 스캔한다는 점입니다. 일반적으로 수 옹스트롬(Å) 이하의 매우 작은 크기로 집속된 전자빔은 시료의 특정 지점을 조사하게 되고, 이 지점을 통과한 전자들은 검출기에서 포착됩니다. 시료를 구성하는 원자들은 전자빔과 상호작용하면서 다양한 신호를 발생시키는데, 이러한 신호들을 각 스캔 위치마다 검출하여 컴퓨터로 처리함으로써 시료의 이미지를 재구성하게 됩니다. 이 과정에서 발생하는 주요 신호로는 투과 전자(transmitted electrons), 탄성 산란 전자(elastically scattered electrons), 비탄성 산란 전자(inelastically scattered electrons), 이차 전자(secondary electrons), 오제 전자(Auger electrons), 특성 X선(characteristic X-rays) 등이 있으며, 이러한 신호들을 어떤 검출기를 사용하여 어떤 방식으로 수집하느냐에 따라 다양한 영상 모드와 분석 정보를 얻을 수 있습니다. STEM의 가장 큰 장점 중 하나는 뛰어난 공간 분해능입니다. 전자빔을 매우 가늘게 집속할 수 있기 때문에 원자 수준의 매우 미세한 구조까지도 관찰할 수 있습니다. 이는 특히 재료 과학 분야에서 결정 구조, 결함, 나노 입자, 표면 구조 등을 연구하는 데 매우 유용하게 활용됩니다. 또한, STEM은 시료를 한 점씩 스캔하기 때문에 TEM에서 발생하는 회절 패턴의 정보 외에도, 각 스캔 지점에서 발생하는 다양한 물리적 상호작용 정보를 독립적으로 수집할 수 있습니다. 이러한 특성은 원소 분포 분석, 화학적 상태 분석, 결정학적 정보 획득 등 다양한 분석을 동시에 수행할 수 있게 해줍니다. STEM에는 여러 가지 검출기 구성과 영상화 모드가 존재합니다. 가장 기본적인 형태는 다크필드(dark-field) 영상으로, 시료를 통과하면서 각도가 큰 방향으로 산란된 전자들만을 수집하여 영상화하는 방식입니다. 이를 위해 회절 각도 범위를 벗어나는 전자들을 포착하는 도넛 모양의 검출기인 수차 수집기(annular detector)를 사용합니다. 이 방식은 특히 결정 구조의 불완전성이나 원자 배열의 변화를 민감하게 보여주는 데 효과적입니다. 반면, 시료를 그대로 통과한 전자들(직진하는 전자)을 수집하여 영상화하는 브라이트필드(bright-field) 영상도 가능하지만, STEM에서는 일반적으로 다크필드 영상이 더 많이 활용되는 경향이 있습니다. STEM의 강력한 분석 능력은 다양한 검출기 시스템과 결합될 때 더욱 극대화됩니다. 예를 들어, 에너지 분산형 X선 분광기(Energy Dispersive X-ray Spectroscopy, EDS 또는 EDX) 또는 파장 분산형 X선 분광기(Wavelength Dispersive X-ray Spectroscopy, WDS)와 결합하면, 각 스캔 지점에서 발생하는 특성 X선을 분석하여 시료의 원소 분포를 나노미터 수준의 공간 분해능으로 얻을 수 있습니다. 이는 시료 내에 존재하는 미량의 원소까지도 추적하고 그 분포를 파악하는 데 필수적인 기술입니다. 또한, 전자 에너지 손실 분광기(Electron Energy Loss Spectrometer, EELS)와 결합하면, 시료를 통과하면서 에너지를 잃은 전자들을 분석하여 시료의 전자 구조, 화학 결합 상태, 산화 상태 등에 대한 정보를 얻을 수 있습니다. 이러한 원소 및 화학적 정보는 시료의 기능적 특성을 이해하는 데 매우 중요한 역할을 합니다. STEM은 특히 재료 과학 분야에서 광범위하게 응용됩니다. 신소재의 결정 구조 분석, 나노 입자의 형성 및 성장 메커니즘 연구, 촉매 표면의 활성점 분석, 반도체 소자의 계면 구조 및 결함 분석, 생체 재료의 미세 구조 및 원소 분포 분석 등 다양한 분야에서 핵심적인 연구 도구로 사용됩니다. 예를 들어, 새로운 촉매 물질을 개발할 때, STEM-EDS/EELS 분석을 통해 촉매 표면의 활성 금속 나노 입자의 크기, 분포, 그리고 주변 원소와의 상호작용을 파악함으로써 촉매의 성능을 최적화하는 데 기여할 수 있습니다. 또한, 차세대 반도체 소자의 미세 공정 과정을 모니터링하고 발생하는 결함을 분석하여 공정 수율을 높이는 데도 중요한 역할을 합니다. STEM과 관련된 기술로는 나노 물질의 3차원 구조 분석을 위한 단층 촬영(tomography) 기술이 있습니다. 시료를 여러 각도로 회전시키면서 STEM 이미지를 획득하고 이를 컴퓨터로 재구성하면 시료의 3차원 구조를 복원할 수 있습니다. 이는 복잡한 나노 구조나 다공성 물질의 내부 구조를 이해하는 데 매우 유용합니다. 또한, STEM은 시료에 고에너지 전자빔을 조사하기 때문에 시료의 손상 가능성이 있습니다. 이를 최소화하기 위해 저가속 전압(low acceleration voltage) STEM이나 실온보다 낮은 온도에서 시료를 관찰하는 저온 STEM(cryo-STEM) 기술도 개발되어 활용되고 있습니다. 저가속 전압 STEM은 시료 손상을 줄이면서도 뛰어난 수직 분해능을 제공하며, 저온 STEM은 온도에 민감한 생체 시료나 유기 시료를 관찰하는 데 필수적입니다. 최근 STEM 기술은 더욱 발전하여, 고유한 전자 광학 시스템을 통해 초점 깊이(depth of focus)를 극복하고 평탄하지 않은 시료 표면에서도 선명한 이미지를 얻을 수 있는 디지털 스캔 모드(digital scan mode)나, 여러 개의 전자빔을 동시에 사용하여 분석 속도를 높이는 멀티빔 STEM 기술 등도 연구 및 개발되고 있습니다. 이러한 기술 발전은 STEM의 활용 범위를 더욱 넓히고, 복잡하고 다양한 시료에 대한 심층적인 분석을 가능하게 하고 있습니다. 결론적으로 STEM은 기존 TEM의 한계를 뛰어넘어 원자 수준의 높은 공간 분해능과 더불어 원소 및 화학적 정보를 동시에 제공할 수 있는 강력한 나노 분석 기술입니다. 다양한 검출기 시스템과의 결합을 통해 얻어지는 풍부한 정보는 재료 과학, 화학, 물리학, 생명 과학 등 다양한 과학 기술 분야의 발전에 핵심적인 기여를 하고 있으며, 앞으로도 STEM 기술의 발전은 더욱 많은 새로운 발견과 혁신을 이끌어낼 것으로 기대됩니다. |
| ※본 조사보고서 [글로벌 스캐닝 투과 전자 현미경 시장예측 2024-2030] (코드 : MONT2407F45935) 판매에 관한 면책사항을 반드시 확인하세요. |
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